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先说第二个问题，过去的单片机成本较高，一套系统里面只有一个，相应的A/D转换也就只有一套，只能采用交替采样，这也是没办法的事情，而现在的嵌入式单片机相当的便宜，这个问题也就不存在了，很多新的设计里面你能看到数个下行单片机在工作，分别进行WBC，RBC甚至HGB都有单独的检测MCU，各个MCU处理信号完毕后只把对应的结果发给上行CPU就可以了。所以过去经典机型那种查询式的采样方式已经没必要模仿了，单独MCU获取的信息更多，对结果的准确程度也就越高。
关于稀释比例，在负压吸引的电阻法当中，由于负压吸引的局限性，其稀释比例不可能很小，否则小孔前后形成的扰流会导致细胞通过小孔时的间隔不一致甚至粘连通过小孔，所以都采用很高的稀释比例。当然，也与第二条的交替查询式的采样有关，在交替采样时丢失的信息尽可能的少。而光学法或鞘流电阻法中，由于基本上都是单通道测试，所以交替查询的方式也没有必要了，完全是连续采样，这样，稀释比例可以做的少一些，获取的信号多一些，基数越大其统计意义越精确。 | 
