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仪器出现故障的一般统计规律是:在仪器使用的早期,出现故障的可能性较高,其原因主要是由于元器件的质量不佳、筛选老化处理不严格、装配工艺上的缺陷、设计不合理以及人为的操作失误等因素所引起,因此,这一时期的可靠性较低或者说故障发生率较高。这个时期称为仪器的早期故障期。经过一段时间的运行后,仪器的元件、机构经过合理的调整,都已逐步适应正常的运行状态,仪器进入稳定使用期,故障的发生率较低,而且一般都是偶然性故障居多。此时仪器处于最佳工作状态,这一时期称为有效使用期。 经过长时间的运行以后,随着各种元件,尤其是易损元件、结构的磨损,损耗程度逐渐增加,仪器的故障发生率又逐渐上升,这个时期为仪器的损耗故障期。一般仪器早期故障常发生于电子元器件上,而损耗期故障则多见于机械零部件或光学零部件。 |