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标志
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定义
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用户操作
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(
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因为清洗剂不足以避免污染，造成避免 污染失败。
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多加清洗剂。
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R
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由于试剂水平探测器故障，试剂不足。
试剂水平探测异常之后，相关的分析项目被停止。
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添加新试剂，重复分析产生该标志的样本。
如果检测一直异常，试剂瓶内可能有气泡，消除气泡，擦去瓶口的水分，如果在试剂探针有污物，擦去。如果检测一直异常，更换试剂探针。
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#
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由于样本水平探针故障，样本不足。
样本水平探测异常之后，停止加样。
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再加样本，然后重复分析。如果检查异常，不考虑样本量，清洗样品探针。如果检测一直异常，更换样本探针。
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%
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样本探针被样本阻塞。
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清晰样本探针。如果一直发生这种情况，更换样本探针。
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?
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异常光电测定值。因为光电校正数据无效，计算数值失败，停机，和/或灯坏了。标志被显示在数据表中。
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如果出现其它标志，付加“?”，按推荐操作。如果没有其它错误标志，检查灯和相应的比色杯之后重新分析。如果系统一直不能从错误中恢复，与OLYMPUS服务部联系。
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U
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试剂空白分析时，该分析项目光电测定最后一点的OD(光密度)值低于已经设置的参数低限值。
如果定标时产生异常数值标志(包括试剂空白分析)，定标数值将不能被自动更新。
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检查参数，然后检查试剂是否变质和在合适的位置。如果试剂已经变质，更换试剂。如果试剂放错位置，纠正错误。
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u
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试剂空白分析和/或常规试剂分析时P0点的试剂OD低于已设计的参数低限值。
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同上
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Y
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试剂空白分析时，该分析项目光电测定最后一点的OD(光密度)值大于已经设置的参数高限值。
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同上
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y
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试剂空白分析和/或常规试剂分析时P0点的试剂OD大于已设计的参数高限值。
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同上
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@
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异常高值。
反应OD值超过2.5。(在双-波长测定中，如果双波长之一超过2.5发生该错误。)
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稀释样本，然后重复分析。
如果检测波长不同，矫正。
如果样本指出异常高值，稀释样本。如果样本是高乳糜样本，进行高速离心，然后稀释样本。
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$
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当在速率测定方法中产生“D”和“B”时，因为少于3个有效测定点，反应的线性不能被测定。
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稀释样本，重复分析。
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D
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正-斜率速率测定中，反应太快。
正-斜率两点测定中，起始和结束处的OD值超过吸光度参数设置的上限。
在速率测定中，当测定吸光度增加和下降时，低于设置的MAX.OD(最大吸光度) 吸光度的读点数值小于2。如此，不显示测定数值。
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如果样本指出Abs.增加反，假定异常高。检查参数，稀释样本，然后重新分析。
如果样本是高度溶血标本，重新留取标本，然后重新分析。
如果样本表明Abs.下降反应，
假定是高-乳糜标本，如果可能，高速离心标本。
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B
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负-斜率速率测定中，反应太快。
在速率测定中，当测定吸光度下降时，高于设置的MIX.OD(最小吸光度) 吸光度的读点数值小于2。如此，不显示测定数值。
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样本被检测异常高，检查参数，稀释样本，然后重新分析。
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*
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在速率法检测中，样本反应不成线性。从已设定的线性参数界限中区分出来。
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检查参数，然后重新分析。
如果样本指出异常高值，稀释样本，然后重新分析。
异常经常发生，联系OLYMPUS维修部。
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&
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前带判断数值异常。
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稀释样本，然后重新分析。
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Z
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免疫反应项目指出样本反应在前带区。
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假设样本异常高，检查参数，稀释样本，然后重新分析。
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!
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数值计算是不可能的。
例如：吸光度大于标准曲线界限。因为密度不能转换，显示测定的OD值。
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如果没有其它错误，重复分析。如果经常发生，联系OLYMPUS维修部。
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F
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测定数值超过参数设计的动力学范围上限。
在多-点标准曲线中，数值超过最后一点Abs.
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稀释样本，然后重新分析。
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G
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测定数值超过已经设计的参数动力学范围下限。
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重复分析。
由于在密度0附近发生测定错误，才发生该错误。这不是因为系统故障。
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p
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数值符合参数内指定的风险值。
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数值一般在动力学范围内。
通过重复分析检查数据。
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T
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在项目-之间检查时测出异常。
这也许是已经被检出项目的异常数值。
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重复分析。
如果结果和以前相同，也许不是异常。数据为病理异常。
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P
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显示一种项目结果的品质。：正
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没有特殊操作要求。
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N
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显示一种项目结果的品质。：负
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同上。
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H
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测定结果超过参数设计的正常范围上限。
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同上。
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L
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测定结果低于参数设计的正常范围的下限。
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同上。
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J
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测定结果超过参数设计的重复运行范围的上限。
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该标志与异常标志不同。产生的标志为了输出结果，但不用于存质控数据。
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K
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测定结果低于参数设计的重复运行范围的下限。
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同上。
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×
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在多-指导质控内，如果一对质控数据之一超出质控范围(如下2-6标志同此)。另一数据被产生标志。
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指明数据不被记录在统计内，因为数据不是异常，
无特殊操作要求。
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1
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在单质控内，数值超出设置的质控范围产生该标志。
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注意，见“Part 5 QUALITY CONTROL 部分5.质控”。
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2
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在多-规则质控内，数值超过3SD质控范围产生该标志。
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同上。
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3
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在多-规则质控内，数值连续超过2SD质控范围产生该标志。
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同上。
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4
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在多-指导质控内，数值连续地超过R4S质控范围外产生该标志。
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同上。
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5
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在多-指导质控内，数值持续4次超过1SD质控范围外产生该标志。
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同上。
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6
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在多-指导质控内，数值持续10次大于或小于均值产生该标志。
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同上。
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7
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在多-指导质控内，该标志表明数值趋势变成上升或下降。
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同上。
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S
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数值被重复运行数值更新(从原始数据)。
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无特殊操作要求。
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/
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没有测定。尽管项目已经被选择，如果样本没有被分析打印出该标志。
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再选该项目，重复分析。
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r
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数据以被传给主机。
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无特殊操作要求。
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e
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数据已在[Data Edit 数据编辑]菜单内被编辑过。
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同上。
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c
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数据已在[Data Correction 数据校正]菜单内被校正。
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同上。
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